Tektronix DSA8300 數字采樣示波器

DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現異常準確的器件檢定，全面支持光通信標準、時域反射和 S 參數。DSA8300 數字采樣示波器為 155 Mb/s 至 100Gb/s 及更高速率的數據通信提供了完整的高速物理層測試平臺。

功能 優勢

電模塊信號測量準確度：

超低系統抖動（典型 <100 fs）

> 70GHz

<100 fs 本底抖動允許對高位速率（40 和 100 (4´25) Gb/s）設備進行檢定，典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定（數據速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數據速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波）。

所有帶寬上系統噪聲業內zui低：

600 µV zui大（450 µV 典型）@ 60 GHz

380 µV zui大（280 µV 典型）@ 30 GHz

zui大程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量，避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。

單臺主機內zui多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。 多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試，提高多個高速串行通道系統的測試吞吐量。

光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網所有標準速率的光一致性測試。 為單模和多模光標準提供經濟實惠、功能多樣的光測試系統，從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太網）和 100 Gb/s 以太網（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波長 850、1310 和 1550nm。

優異的采集吞吐量，采樣率zui高 300 kS/s。 通過優異的系統吞吐量，可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。

能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近。 遠程采樣頭zui大程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化，簡化測試系統的反嵌。

獨立的已校準通道相差校正。 雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正，消除時滯，增強多通道測量的信號保真度。

Data Sheet Accessory Description

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80A02 EOS/ESD 保護模塊，用于泰克電采樣模塊的靜電隔離；本產品包含一致性聲明

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80A03 TEKCONNECT 探頭接口模塊

80B28G

8000 系列 - 電采樣示波器套裝，支持 25/28 Gb/s 標準（包括 80E09B、82A04B、CR286A 和附件）

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80C07B 光采樣模塊；2.488 GB/S OC48/STM16，2.500 GB/S 2GBE，2.500 GB/S 無限帶寬；2.5 GHZ 光帶寬

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80C08D

單通道光采樣模塊；10G 光參考接收機濾波器；12 GHz 光寬帶；單模/多模

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80C10C 單通道，65/80 GHz 光采樣模塊（必須 F1、F2 或 F3 中的一個選件）

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80C11B

單通道光采樣模塊；10G 光參考接收機濾波器；28 GHz 光寬帶；單模

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80C12B

12 GHz，寬波長，放大光采樣模塊

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80C14

14+ GHz，寬波長，放大光采樣模塊

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80C15 8000 系列光模塊，32GHz，單模/多模，寬波長

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80C17 8000 Series Optical Module: Single channel, 30GHz: single/multi-mode: broad wavelength

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80C18 雙重或 2 通道光模塊，支持單/多模，以及多速率數據通信和電信 25 Gb/s、100 Gb/s 和 PAM4（適用于 50G/100G/200G/400G）

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80E03

采樣模塊；雙，20GHZ 電采樣模塊 - 可追溯校準標準證明

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80E04 采樣模塊；雙，20GHZ 帶 TDR 電采樣模塊 - 可追溯校準標準證明

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80E07B 8000 系列，雙通道，30 GHz，遠程電采樣模塊（包含 D1）

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80E08B 8000 系列，雙通道，30 GHz，遠程電采樣模塊，帶 TDR（包含 D1）

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80E09B 8000 系列，雙通道，60 GHz，遠程電采樣模塊（包含 D1）

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80E10B 8000 系列，雙通道，50 GHz，遠程電采樣模塊，帶 TDR（包含 D1）

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80E11 8000 系列，雙通道，70 GHz，超低抖動，電采樣模塊（包含 D1）

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80E11X1 8000 系列，單通道，70 GHz，超低抖動，電采樣模塊（包含 D1）

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82A04B 8000 系列，相位參考模塊（包括 D1）